闭锁效应
释
拼音bì suǒ xiào yīng
字母bi suo xiao ying
首字母bsxy
注音ㄅㄧˋ ㄙㄨㄛˇ ㄒㄧㄠˋ ㄧㄥ
注音符号ㄅㄧ ㄙㄨㄛ ㄒㄧㄠ ㄧㄥ
闭锁效应是某些器件或集成电路中发生像晶闸管（可控硅，SCR）那样的栅极（控制极）能够控制导通、但是不能控制关断的一种现象，是造成IC失效的一种重要原因。
闭锁效应是某些器件或集成电路中发生像晶闸管（可控硅，SCR）那样的栅极（控制极）能够控制导通、但是不能控制关断的一种现象，是造成IC失效的一种重要原因。